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半导体冷热冲击测试设三箱式一样有高温储存箱或者低温储存箱及样品测试箱,样品测试箱摆放的产品*静止,还可以定制加开测试孔连线通电加负载测试。本设备满足:GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法
半导体冷热冲击试验机主要用于测试零部件、材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在Z短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室,确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性,又可满足生产过程中筛选商用产品
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